光學(xué)影像測量儀測量工件高度的方法

光學(xué)影像測量儀主要測量X軸和Y軸的二維測量數(shù)據(jù)，其實光學(xué)影像測量儀也可以簡單測量Z軸，也就是所謂的高度測量。從測量的維度將光學(xué)影像測量儀分為二次元和2.5次元影像測量儀，其中2.5次元影像測量儀機型可以測量工件的高度。

光學(xué)影像測量儀高度測量方法

1、影像非接觸測高法

光學(xué)影像測量儀可以用來測量高度，常用非接觸式的測高方法，您可以選擇Z軸自動的機型，使用Z軸自動對焦來測高，既方便又能減少人為操作的誤差，保證任何人測量的結(jié)果一致。

七海推出的最新光學(xué)影像測量儀ACCURA  Z機型，帶有光學(xué)自動對焦測高功能，各軸采用精密直線導(dǎo)軌，高精密傳動系統(tǒng)，全自動精準測量.獨特的空間面補償技術(shù)，保證機器的精度穩(wěn)定可靠.七海專利的即時影像導(dǎo)航系統(tǒng) ，快速定位要測量位置.高分辨率原裝進口彩色CCD。三軸進口光柵尺(分辨率0.4um)。可程序控制的六環(huán)八區(qū)LED光源，表面光源、環(huán)形光源.連續(xù)變倍鏡頭，可實現(xiàn)連續(xù)變倍測量，測高精度在0.01mm以內(nèi)。

2、接觸法測高

如果您測高的精度要求很高,也可以采用接觸式的測高，就是在影像儀的基礎(chǔ)上在增加探針系統(tǒng),探針測高精度可達到0.003mm左右。光學(xué)影像測量儀加針,用接觸法直接測量，這個方法也要在軟件上增加模塊。

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